盡管顆粒形狀能被假設為規則的幾何形，但是絕大多數的情況下它是不規則的，只不過目前流行的粒度測量方法是基于“等效球體積”。如果試圖利用粒度測量方法（包括激光衍射法、光散射法、電域敏感法、沉降法、透過法、篩分法和電子顯微鏡法）測量比表面，由于粒形、表面的不規則及孔隙度的影響，其結果會比真值嚴重偏小，甚至相差 1000 倍以上。因此，由粒徑計算表面積只能通過球形或其它規則幾何形狀的絕對假設建立一個低限值。
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